Análise de semicondutores
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DB-FIB
Introdução ao serviço Atualmente, o DB-FIB (feixe duplo de íons focado) é amplamente aplicado em pesquisa e inspeção de produtos em campos como: Materiais cerâmicos, polímeros, materiais metálicos, estudos biológicos, semicondutores, geologia Escopo do serviço Materiais semicondutores, materiais orgânicos de pequenas moléculas, materiais poliméricos, materiais híbridos orgânicos/inorgânicos, materiais inorgânicos não metálicos Histórico do serviço Com o rápido avanço da eletrônica de semicondutores e circuitos integrados... -
Análise Física Destrutiva
As consistências de qualidadedo processo de fabricaçãoemcomponentes eletrônicossãoo pré-requisitopara componentes eletrônicos que atendam ao seu uso e às especificações relacionadas. Um grande número de componentes falsificados e recondicionados está inundando o mercado de fornecimento de componentes, a abordagempara determinar a autenticidade dos componentes da prateleira é um grande problema que afeta os usuários de componentes.
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Análise de falhas
Com a redução do ciclo de P&D das empresas e o crescimento da escala de produção, a gestão de produtos e a competitividade dos produtos enfrentam múltiplas pressões dos mercados interno e externo. A qualidade do produto é garantida durante todo o ciclo de vida do produto, e a baixa ou até mesmo zero taxa de falhas torna-se um importante fator de competitividade para uma empresa, mas também representa um desafio para o controle de qualidade empresarial.
