Certificação de dispositivo de energia AQG324
Introdução ao serviço
O Grupo de Trabalho ECPE AQG 324, criado em junho de 2017, está trabalhando em uma Diretriz Europeia de Qualificação para Módulos de Potência para Uso em Unidades Conversoras de Eletrônica de Potência em Veículos Motorizados.
Com base na antiga LV 324 alemã ('Qualificação de Módulos Eletrônicos de Potência para Uso em Componentes de Veículos Motorizados - Requisitos Gerais, Condições de Teste e Testes'), a Diretriz ECPE define um procedimento comum para caracterizar testes de módulos, bem como para testes ambientais e de vida útil de módulos eletrônicos de potência para aplicação automotiva.
A diretriz foi divulgada pelo Grupo de Trabalho Industrial responsável, composto por empresas membros da ECPE com mais de 30 representantes da indústria da cadeia de fornecimento automotivo.
A versão atual do AQG 324 datada de 12 de abril de 2018 concentra-se em módulos de potência baseados em Si, onde versões futuras a serem lançadas pelo Grupo de Trabalho também cobrirão os novos semicondutores de potência de banda larga SiC e GaN.
Ao interpretar profundamente o AQG324 e os padrões relacionados da equipe de especialistas, a GRGT estabeleceu as capacidades técnicas de verificação do módulo de potência, fornecendo relatórios confiáveis de inspeção e verificação do AQG324 para empresas upstream e downstream na indústria de semicondutores de potência.
Escopo do serviço
Módulos de dispositivos de potência e produtos de design especial equivalentes baseados em dispositivos discretos
Padrões de teste
● DINENISO/IEC17025：Requisitos Gerais para a Competência de Laboratórios de Ensaio e Calibração
● IEC 60747:Dispositivos Semicondutores, Dispositivos Discretos
● IEC 60749:Dispositivos Semicondutores ‒ Métodos de Teste Mecânicos e Climáticos
● DIN EN 60664: Coordenação de isolamento para equipamentos em sistemas de baixa tensão
● DINEN60069:Testes Ambientais
● JESD22-A119:2009:Vida útil de armazenamento em baixa temperatura
Itens de teste
| Tipo de teste | Itens de teste |
| Detecção de módulo | Parâmetros estáticos, parâmetros dinâmicos, detecção de camada de conexão (SAM), IPI/VI, OMA |
| Teste de característica do módulo | Indutância parasita parasita, resistência térmica, resistência a curto-circuito, teste de isolamento, detecção de parâmetros mecânicos |
| Teste ambiental | Choque térmico, vibração mecânica, choque mecânico |
| Teste de vida | Ciclo de alimentação (PCsec, PCmin), HTRB, HV-H3TRB, polarização de porta dinâmica, polarização reversa dinâmica, H3TRB dinâmico, degradação bipolar de diodo corporal |
